为什么选择XTDIC
强大的测量性能

强大的测量性能

• 位移分辨率可至纳米级；
• 应变精度达20μe，应变测量范围0.002%~2000%；
• 试样尺寸从几mm²到几十m²，更大测量视野可通过定制化服务实现；
• 动态事件捕捉速率高达1000000fps；
• 动态测量实时性：全场应变分析20fps，关键点追踪100fps@100个点，最高可达1000fps。

专业DIC技术厂商

★ 专注DIC技术研发、应用10多年，在DIC技术领域掌握核心技术，参与多项国家重大科技项目和国家、行业标准修制订；
★ 国家技术发明二等奖
★ 陕西省科学技术奖一等奖
★ 国产DIC技术开拓者，每年持续更新和发布DIC软件和扩充所支持的硬件，提升设备能力。
专业DIC技术厂商
定制化服务

定制化服务

新拓三维提供一站式解决方案，包括软件系统、硬件系统、零配件系统等定制化服务。
自主可控核心算法
新拓三维持续专注于光学测量技术的研发与创新，在光学测量领域掌握多项核心技术。公司的高精度相机柔性标定算法、高精度三维重建算法、图像识别及匹配算法、丰富的数据后处理算法等多项研究成果及关键技术达到国际先进水平，并从底层算法、测量软件到整机产品，完全拥有自主知识产权。
  • +图像识别及匹配算法
  • +高精度相机柔性标定算法
  • +高精度三维重建算法
  • +丰富的数据后处理算法
    • 丰富的行业应用
    XTDIC系统广泛应用于国内外研究机构、高校及企业的科研、生产中。涉及消费航天航空，汽车，重型机械，医疗，消费电子等行业和机械、材料、力学、土木工程等10多个学科领域。
      航空航天

      航空航天

      汽车船舶

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      材料测试

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      煤岩土木

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      芯片半导体

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      生物医学

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