  国内唯一自主研发工业近景摄影测量系统，达国际先进水平。XTDP摄影测量系统用于大型工件及产品、 生产设备、试验设施等对象的空间几何尺寸测量和静态变形分析。 XTDP摄影测量作为一种非接触测量方式，具有精度高、速度快、超便携、环境适应性强等优良特性。无需转站、移站，所以经常替代激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等设备使用。 XTDP-Ⅰ型产品参数
|
|
国内唯一自主研发工业近景摄影测量系统，达国际先进水平。XTDP摄影测量系统用于大型工件及产品、 生产设备、试验设施等对象的空间几何尺寸测量和静态变形分析。 XTDP摄影测量作为一种非接触测量方式，具有精度高、速度快、超便携、环境适应性强等优良特性。无需转站、移站，所以经常替代激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等设备使用。 XTDP-Ⅰ型产品参数
|
