XTDIC-MICRO-SD
显微应变测量系统
DIC-Micro系列显微应变测量系统,将数字图像相关法(DIC)与双目立体式显微镜技术结合,实现微小物体的变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量。
XTDIC-MICRO-SD产品参数
插件代码
型号 XTDIC-MICRO-SD
相机像素 2×230万(1920×1200)
相机帧频 160fps
最小分辨率 2-3um
应变测量精度 50με
应变测量范围 0.01%~500%
测量范围 1mm~10mm
应用案例
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