XTDIC-CONST-SD
三维全场应变测量分析系统

XTDIC系统结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移场及应变场的测量,具有便携,速度快,精度高、易操作等特点;
与双目立体式显微镜技术结合,实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移场及应变场的测量。
XTDIC-CONST-SD产品参数
插件代码
型号 XTDIC-CONST-SD
相机像素 230万像素~500万像素
相机帧频 75fps~160fps
应变测量精度 50με
应变测量范围 0.005 ~ 2000%
位移测量精度 ≤0.01像素
测量范围 mm² ~ 10m×10m
实时计算 支持
多测头同步测量 支持
控制系统 标准型
标定板材质 铝合金
典型配置 1920×1200@160fps、2448×2048@75fps
应用案例
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