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XTDIC全场非接触式应变测量系统
XTDIC非接触式全长应变测量系统采用高精度的数字图像相关算法，故而又名dic数字散斑应变测量系统。可以通过非接触式光学测量方式，为试验者提供非接触式动态全场三维应变及位移测量。
dic技术在室内室外的普通环境均可使用，应变测量范围从0.005%-2000%以上，配合不同的图像采集硬件，测量对象尺寸可以从几mm2 - 几十m2，更大测量幅面也可定制，理论上在此测量范围内只要能获取高质量的图像，即可进行精确的应变测量与变形测量。
dic技术在室内室外的普通环境均可使用，应变测量范围从0.005%-2000%以上，配合不同的图像采集硬件，测量对象尺寸可以从几mm2 - 几十m2，更大测量幅面也可定制，理论上在此测量范围内只要能获取高质量的图像，即可进行精确的应变测量与变形测量。
DIC测量系统 原理
数字图像相关法(Digital Image Correlation，DIC)是一种非接触式测量方式，用来测量物体表面应变和变形的方法。dic测量系统通过跟踪物体表面数字散斑的形变过程，计算散斑域的灰度值的变化，从而获取被测物表面的非接触式形变测量数据。根据获取dic数字散斑的方式和计算结果的不同，数字图像相关法也分为二维dic和三维dic。
DIC测量系统 技术优势
（1）dic非接触测量；
（2）直接测量全场振幅、振动信息；
（3）可直接测量全场应变、位移、变形、形貌；
（4）dic技术可用于实时监测；
（5）相关图像数据可反复分析处理，以实现不同研究目的，而无须重复试验，节约经济和时间成本；
（6）dic试验过程可追溯、可评估；